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        • ESJ220-4A電子分析天平
          ESJ220-4A電子分析天平

          ESJ220-4A電子分析天平。全自動內(nèi)校萬分之一天平,稱量范圍:220g,可讀性:0.1mg,采用全自動校準技術,消除由于溫度、環(huán)境、時間等產(chǎn)生的誤差。具有超載/欠載報警、溫度補償、全量程去皮、累加/累減、還可以進行物質密度計量

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        • ESJ120-4B電子分析天平
          ESJ120-4B電子分析天平

          ESJ120-4B電子分析天平。外部校準萬分之一天平,稱量范圍:120g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術獲得更高的分辨率。配備外置F1級無磁不銹鋼校準砝碼,隨時隨需校準。

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        • ESJ200-4B電子分析天平
          ESJ200-4B電子分析天平

          ESJ200-4B電子分析天平。外部校準萬分之一天平,稱量范圍:200g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術獲得更高的分辨率。配備外置F1級無磁不銹鋼校準砝碼,隨時隨需校準。

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        • ESJ210-4B電子分析天平
          ESJ210-4B電子分析天平

          ESJ210-4B電子分析天平。外部校準萬分之一天平,稱量范圍:210g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術獲得更高的分辨率。配備外置F1級無磁不銹鋼校準砝碼,隨時隨需校準。

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        • ESJ220-4B電子分析天平
          ESJ220-4B電子分析天平

          ESJ220-4B電子分析天平。外部校準萬分之一天平,稱量范圍:220g,可讀性:0.1mg,后置式電磁力傳感器技術獲得更高的分辨率。配備外置F1級無磁不銹鋼校準砝碼,隨時隨需校準。

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